В центре внимания
Лабораторное оборудование: производство и поставки

«Серния Инжиниринг» подвела итоги конкурса «Зондовые измерения и параметрический анализ»

«Серния Инжиниринг» подвела итоги конкурса «Зондовые измерения и параметрический анализ»

С 1 по 30 сентября 2019 прошел конкурс «Зондовые измерения и параметрический анализ» на знание оборудования и методик для проведения зондовых измерений.

Публикуем правильные ответы и имена победителей.

Правильные ответы

1. Какие параметрические измерения проводятся для оценки качества электронного устройства в 1-ю очередь:

a) параметрические измерения DC/LF без проверки функционала устройства

2. С помощью каких методик может выполняется калибровка в плоскости зонд/образец?

в) Любая из предложенных

3. На что необходимо обратить внимание для выполнения качественного контакта с высокой повторяемостью:

г) наличие микроманипуляторов с высоким разрешением

4. Что необходимо учесть при проведении измерений постоянного тока малых величин, чтобы исключить влияние на результаты измерения внешних факторов и самой зондовой станции?

a) внешний фоновый шум и ток утечки кабелей

5. Если для проведения тестирования образца вам необходимо двустороннее зондирование, какую модель зондовой станции Semiprobe вы выберете?

a) DSP

6. Выберете зондовую станцию Semiprobe, с помощью которой можно провести магнитное стимулирование?

в) MSS

7. Если для проведения тестирования образца вам необходимо произвести DC/HF измерения, какую зондовую станцию Semiprobe вы выберете?

в) LAB ASSISTANT

8. Какое максимальное напряжение SMU средней мощности у параметрического анализатора Keithley 4200А-SCS возможно при измерениях ВАХ:

a) ±210В

9. Какое токовое разрешение SMU средней мощности у параметрического анализатора Keithley 4200А-SCS возможно при измерениях ВАХ:

в) 10 аА

10. Какое преимущество дает наличие внешнего коммутатора 4200А-CVIV у параметрического анализатора Keithley 4200А-SCS:

г) позволяет проводить измерения ВАХ и ВФХ на зондовой станции, не меняя подключения кабелей

11. Какой диапазон измерений емкости у параметрического анализатора Keithley 4200А-SCS:

в) От 1 пФ до 1 мкФ

12. Максимальное напряжение низковольтного источника смещения у параметрического анализатора Keithley 4200А-SCS при измерениях ВФХ:

г) ±30В

Победители конкурса

Правильно ответили на все вопросы только 2 участника. В результате победителями стали:

1 место — Морковкин Олег Владимирович., приз — рюкзак для ноутбука;

2 место — Матыкина Арина Андреевна, приз — зонт со встроенным фонариком;

3 место — Беспалов С.С, приз — беспроводная настольная колонка.

Как получить призы

Призы можно получить в нашем офисе по адресу: г.Москва, улица Вавилова, дом 57а, эт 2, офис 211.

Если вы проживаете в регионе, мы отправим Вам призы по почте. Для обсуждения вариантов получения, свяжитесь с Волковой Екатериной, e-mail.ru. info@sernia.ru.

Источник

Читайте также